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LifecyclePhase:
Revision : 1
Expired Period: Forever
Release Date:2008-09-20 00:15:28.0
EVERLIGHT ELECTRONICS CO.,LTD.
Technical Data Sheet
2.3" 8*8 Dot Matrix Displays
ELM-2882SYGWA/S530-E2
Ｄ Reliability test items and conditions:
The reliability of products shall be satisfied with items listed below.
Confidence level～97%
LTPD～3%
NO
Item
Test Conditions
Test
Hours/Cycle
Sample Size
Failure
Judgment
Criteria
Ac/Re
1
Solder Heat
TEMP : 260％ ±
5 ％
5 SEC
76 PCS
0/1
H : +85％ 30min
2
Temperature Cycle
⑧ 5 min
50 CYCLE
76 PCS
0/1
L : -55％ 30min
H : +100％ 5min
3
Thermal Shock
⑧ 10 sec
50 CYCLE
76 PCS
0/1
L : -10％ 5min
4
High Temperature Storage
TEMP : 100％
1000 HRS
76 PCS
0/1
5
Low Temperature Storage
TEMP : -55％
1000 HRS
76 PCS
0/1
6
DC Operating Life
IF = 10 mA
1000 HRS
76 PCS
0/1
7
High Temperature / High
Humidity
85％/85% RH
1000 HRS
76 PCS
0/1
Note～ Ivt～The test Iv value of the chip before the reliablility test
Iv～The test value of the chip that has completed the reliablility test
U～Upper Specification Limit
L～ Lower Specification Limit
http : //www.everlight.com
Rev. : 1
Page: 5 of 6
Device Number :·'CDDM-288-044
Prepared date:2006/12/18
Prepared by: YanLi Zhong
Iv⑻Ivt*0.5
or
Vf⑼U
or
Vf⑻L
EVERLIGHT ELECTRONICS CO.,LTD.
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